Електронний каталог

          Васильева, Т.
    Информационно-измерительная экспертная система проведения испытаний технических средств по требованиям безопасности [Текст] / Т. Васильева
    // CHIP NEWS. Инженерная микроэлектроника. – 2008. – №6 : Российский рынок электронных компонентов. – С. 41-44.


ББК 3

            




Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'